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奈米檢測技術
作者
：
出版日期
：
2009
閱讀格式
：
PDF
ISBN
：
9789868140943
- 序言
- 諮詢委員
- 編審委員
- 作者
-
第一章 奈米科技概論
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1.1前言
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1.2奈米材料之特性
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1.3奈米材料之結構
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1.3.1奈米管
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1.3.2奈米線
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1.3.3量子點與量子井
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1.3.4奈米孔洞材料
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1.3.5奈米複合物
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1.4製備技術
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1.5應用領域
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1.5.1奈米元件
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1.5.2磁性元件
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1.5.3光電元件
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1.5.4生醫應用
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1.5.5奈米材料其他應用
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1.6結論
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參考文獻
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第二章 奈米檢測簡介
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2.1概述
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2.2奈米尺寸與計量單位
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2.3檢測項目
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2.3.1尺寸、外觀、粒徑、膜厚及力學特性
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2.3.2機械特性
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2.3.3光學特性
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2.3.4表面結構
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2.3.5電性
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2.3.6磁性
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2.3.7能量
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2.3.8量子效應
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2.3.9生物醫學
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2.4檢測與奈米科技發展關係
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參考文獻
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第三章 光子束檢測技術
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3.1概述
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3.1.1光的本質─波動與粒子的雙重性
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3.1.2基於光學波動性質之光學顯微鏡
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3.1.3影像技術鳥瞰
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3.l.4突破繞射極限的光學顯微技術
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3.1.5從空間解析到時間解析
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3.1.6結語
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3.2差動共焦顯微術
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3.2.1基本原理
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3.2.2技術規格與特徵
-
3.2.3應用與實例
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3.2.4結語
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3.3表面電漿子共振顯微術
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3.3.1引言
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3.3.2電漿子效應
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3.3.3表面電漿子強化之螢光顯微術
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3.3.4表面電漿子相位顯微術
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3.3.5表面電漿子增強雙光子螢光顯微術
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3.3.6結論
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3.4非線性光學─多光子顯微術
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3.4.1歷史沿革
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3.4.2基本原理
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3.4.3多光子顯微鏡的解析度
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3.4.4應用與實例
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3.4.5結論
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3.5螢光光譜分析
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3.5.1基本原理
-
3.5.2技術規格與特徵
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3.5.3螢光激發系統分類
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3.5.4應用與實例
-
3.5.5結語
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3.6拉曼光譜顯微術
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3.6.1歷史
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3.6.2基本原理
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3.6.3共焦拉曼光譜顯微術
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3.6.4掃描近場拉曼光譜顯微術
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3.6.5探針增強拉曼光譜顯微術
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3.6.6結論
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3.7相調反史托克拉曼散射顯微術
-
3.7.1前言
-
3.7.2基本原理
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3.7.3技術規格
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3.7.4應用與實例
-
3.7.5結語
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參考文獻
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第四章 X光檢測技術
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4.1概述
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4.2X光繞射分析術
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4.2.1基本原理
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4.2.2影響X光繞射峰的因素
-
4.2.3卷積理論
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4.2.4技術規格與特徵
-
4.2.5應用與實例
-
4.2.6結語
-
-
4.3X光吸收光譜分析術
-
4.3.1基本原理
-
4.3.2技術規格與特徵
-
4.3.3應用與實例
-
4.3.4結語
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-
4.4X光光電子光譜法
-
4.4.1簡介
-
4.4.2束縛能
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4.4.3光電子的動能
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4.4.4儀器特徵
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4.4.5光譜特徵
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4.4.6定量分析
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4.4.7縱深資訊
-
4.4.8結語
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-
4.5小角度X光散射分析術
-
4.5.1基本原理
-
4.5.2技術規格與特徵
-
4.5.3應用與實例
-
4.5.4結語
-
-
4.6X光螢光分析術及X光全反射螢光光譜分析術
-
4.6.1基本原理
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4.6.2技術規格與特徵
-
4.6.3應用與實例
-
4.6.4結語
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-
4.7X光反射率測量法
-
4.7.1前言
-
4.7.2基本原理
-
4.7.3實驗方法
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4.7.4程式模擬
-
4.7.5應用實例
-
4.7.6結語
-
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4.8X光微聚焦光束技術
-
4.8.1前言
-
4.8.2X光光源
-
4.8.3X光聚焦光學元件
-
4.8.4微聚焦同步輻射光束線
-
4.8.5X光微聚焦光束之應用
-
4.8.6結語
-
-
參考文獻
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第五章 離子束檢測技術
-
5.1概述
-
5.2二次離子質譜分析術
-
5.2.1基本原理
-
5.2.2技術規格與特徵
-
5.2.3應用與實例
-
5.2.4結語
-
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5.3拉塞福背向散射分析術
-
5.3.1物理背景
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5.3.2實驗裝置
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5.3.3工作原理
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5.3.4參考實例
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5.3.5能量鑑別
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5.3.6氫的偵測
-
5.3.7溝渠效應
-
5.3.8結語
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5.4中能量離子散射分析術
-
5.4.1簡介
-
5.4.2基本原理
-
5.4.3儀器設備
-
5.4.4應用實例
-
5.4.5結語
-
-
5.5粒子誘發X光分析術
-
5.5.1基本原理
-
5.5.2儀器設備與量測
-
5.5.3應用與實例
-
5.5.4結語
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-
參考文獻
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第六章 電子束檢測技術
-
6.1概述
-
6.2掃描式電子顯微術
-
6.2.1基本原理
-
6.2.2技術規格與特徵
-
6.2.3應用與實例
-
6.2.4結語
-
-
6.3穿透式電子顯微術
-
6.3.1簡介
-
6.3.2儀器特徵
-
6.3.3影像的對比
-
6.3.4掃描穿透式電子顯微鏡
-
6.3.5結語
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-
6.4能量散佈分析術
-
6.4.1前言
-
6.4.2X光產生原理
-
6.4.3EDS儀器架構
-
6.4.4無感時間
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6.4.5偽像
-
6.4.6效率
-
6.4.7EDS量測模式
-
6.4.8定性分析
-
6.4.9定量分析
-
6.4.10能量散佈光譜儀之特徵
-
6.4.11EDS操作參數選擇
-
6.4.12EDS實際應用
-
6.4.13結語
-
-
6.5電子能量損失光譜分析術
-
6.5.1電子束與原子之間的作用
-
6.5.2EELS構造與偵測原理
-
6.5.3EELS能譜分析
-
6.5.4定量分析
-
6.5.5細微結構
-
6.5.6能量過濾穿透式電子顯微鏡
-
6.5.7空間解析度
-
6.5.8結語
-
-
6.6低能電子繞射分析術
-
6.6.1基本原理
-
6.6.2低能量電子繞射的理論
-
6.6.3低能量電子繞射的實驗技術
-
6.6.4應用與實例
-
6.6.5結語
-
-
6.7反射式高能電子分析術
-
6.7.1基本原理
-
6.7.2表面重組結構
-
6.7.3RHEED振盪現象
-
6.7.4磊晶的應用
-
6.7.5結語
-
-
6.8奈米歐傑電子能譜表面分析技術
-
6.8.1表面分析的基本觀念
-
6.8.2歐傑電子能譜儀的基本觀念
-
6.8.3奈米歐傑電子能譜儀在表面分析應用實例
-
6.9陰極螢光光譜分析術
-
6.9.1基本原理
-
6.9.2技術規格與特徵
-
6.9.3應用與實例
-
-
6.9.4結語
-
參考文獻
-
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第七章 探針檢測技術
-
7.1概述
-
7.2掃描穿隧顯微術
-
7.2.1基本原理
-
7.2.2儀器結構
-
7.2.3超高真空低溫STM
-
7.2.4場發射STM
-
7.2.5應用實例
-
7.2.6結語
-
-
7.3原子力顯微術
-
7.3.1前言
-
7.3.2基本原理
-
7.3.3系統特徵與技術規格
-
7.3.4應用與實例
-
7.3.5結論
-
-
7.4近場光學顯微術
-
7.4.1基本原理與歷史
-
7.4.2儀器架構
-
7.4.3應用與實例
-
7.4.4新近發展
-
7.4.5結論
-
-
7.5磁力顯微術
-
7.5.1歷史介紹
-
7.5.2操作原理
-
7.5.3磁針與磁力來源
-
7.5.4磁力與磁力顯微鏡影像模式
-
-
7.6其他掃描探針顯微術
-
7.6.1電性掃描探針顯微術
-
7.6.2掃描電容顯微術
-
7.6.3掃描電流顯微術
-
7.6.4電力顯微術
-
7.6.5壓電力顯微術
-
7.6.6結語
-
-
參考文獻
-
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第八章 其他檢測方法
-
8.1中子繞射散射儀
-
8.1.1中子繞射簡介
-
8.1.2技術規格與特徵
-
8.1.3基本原理
-
8.1.4應用與實例
-
8.1.5結語
-
-
8.2奈米壓痕儀
-
8.2.1基本原理
-
8.2.2技術規格與特徵
-
8.2.3應用與實例
-
8.2.4結語
-
-
8.3表面輪廓儀
-
8.3.1前言
-
8.3.2表面測量相關的發展
-
8.3.3探針型表面輪廓量測
-
8.3.4非接觸式表面形貌量測
-
8.3.5結論
-
-
8.4石英振盪器在奈米表面吸附分析之應用
-
8.4.1基本原理
-
8.4.2技術規格與特徵
-
8.4.3應用與實例
-
8.4.4結語
-
-
8.5微懸臂樑於奈微米檢測之應用
-
8.5.1微懸臂樑簡介
-
8.5.2微懸臂樑靜態測試
-
8.5.3微懸臂樑動態測試
-
8.5.4注意事項
-
8.5.5結論
-
-
8.6光散射法測定粒徑與zeta電位
-
8.6.1簡介
-
8.6.2光散射
-
8.6.3電泳光散射法
-
8.6.4結語
-
-
8.7BET比表面積分析法
-
8.7.1簡介
-
8.7.2氣體吸附行為與等溫吸附脫附曲線
-
8.7.3BET表面積的量測原理
-
8.7.4BET理論適用之範圍
-
8.7.5快速估計材料表面積─單點法
-
8.7.6實際量測過程與注意事項
-
8.7.7結論
-
-
參考文獻
-
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第九章 前瞻性奈米檢測技術
-
9.1結構顯微術
-
9.1.1遠場光學奈米顯微術
-
9.1.2原子探針斷層掃描
-
9.1.3高角度環狀暗場掃描穿透式電子顯微鏡斷層掃描
-
-
9.2結構特性分析術
-
9.2.1電子奈米繞射
-
-
9.3光學性質分析術
-
9.3.1近場掃描光學奈微術
-
9.3.2自旋體旋進的激發探測研究
-
9.3.3法拉第旋轉之時間解析
-
9.3.4發冷光的上轉換之時間分析
-
-
9.4彈性特性分析術
-
9.4.1侷限的聲頻聲子：低頻拉曼散射分析
-
9.4.2奈米團簇的振動態之同步激發─時間解析頻譜儀
-
-
9.5電子與電的特性分析術
-
9.5.1表面探針顯微技術
-
9.5.2延伸能量損失精細結構
-
9.5.3X光光電子能譜術微探針
-
-
9.6磁性特性分析術
-
9.6.1硬X光光激發
-
-
9.7結語
-
參考文獻
-
- 中文名詞索引
- 英文名詞索引
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